DMP® – Máy đo độ dày lớp phủ cầm tay đa dụngĐảm bảo tuân thủ tiêu chuẩn RoHS bằng phương pháp quang phổ huỳnh quang tia X (XRF)
Một trong những điều tối quan trọng đối với các nhà sản xuất và phân phối sản phẩm tiêu dùng là có thể phát hiện ra các chất độc hại để kiểm soát, hạn chế và loại trừ. Nhiều quy định khác nhau, chẳng hạn như RoHS (Hạn chế các chất độc hại), DIN EN 71 (Tiêu chuẩn An toàn Đồ chơi) và CPSIA (Đạo luật Cải thiện An toàn Sản phẩm Tiêu dùng), quy định các giá trị tối đa cho phép, đặc biệt đối với kim loại nặng.
Ví dụ: RoHS giới hạn nồng độ của chì (Pb), thủy ngân (Hg), crom hóa trị sáu (Cr VI) và các hợp chất brom (PBB, PBDE) là 1000 ppm, trong khi giới hạn cho Cadmium (Cd) chỉ là 100 ppm.
Thiét bị quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) trang bị đầu dò SDD có độ phân giải cao và hệ thống đo tự động, chẳng hạn như FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, đặc biệt rất phù hợp để xác định dễ dàng các chất độc hại này trong nhiều loại sản phẩm mà không phá hủy. WinFTM®, phần mềm phân tích mạnh mẽ của Helmut Fischer, bao gồm một chế độ được phát triển đặc biệt cho phân tích RoHS, cung cấp cho việc đánh giá tự động việc tuân thủ các giá trị giới hạn. Do đó, việc tuân thủ các yêu cầu pháp lý có thể được xác minh nhanh chóng, với thời gian đo trung bình 60-300 giây.
Giới hạn phát hiện của Chì (Pb) trong các vật liệu/ thành phần khác nhau được đo bằng FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®SDD so với các giá trị giới hạn của các quy định khác nhau.
| Nhựa | Nhôm / gốm | Đồng thau | Thép | Chất chống hàn |
| 2 ppm | 6 ppm | 50 ppm | 30 ppm | 60 ppm |
| Vỏ bọc dây cấp, bảng mạch PCB … | Linh kiện dán trên bề mặt (SMD) | Tiếp điểm dẫn điện | Cấu trúc bảo vệ ngoài | Vị trí phủ chất chống hàn Solder resist |
| Tiêu chuẩn | Giới hạn (ppm) | |||
| RoHS | 1000 | |||
| DIN EN 71 | 90 | |||
| CPSIA | 100 |
Bảng dữ liệu trên minh họa các giới hạn phát hiện đối với Pb trong các vật liệu khác nhau bằng phương pháp huỳnh quang tia X. Trong khi có thể đo trực tiếp đối với Pb, thì đối với Cr và Br chỉ có thể xác định tổng hàm lượng – không phải là nồng độ chính xác của các hợp chất độc hại. Tiêu chuẩn được đáp ứng khi tổng hàm lượng thấp hơn giá trị giới hạn, nếu không thì phải sử dụng các phương pháp phân tích bổ sung. Các giới hạn phát hiện cần thiết cũng có thể được đáp ứng đối với các kim loại nặng khác, chẳng hạn như Cd, Hg, As và Ba.
Liên lạc với Helmut Fischer Việt Nam để được hỗ trợ tư vấn để lựa chọn một thiết bị huỳnh quang tia X phù hợp để phân tích và kiểm soát hàm lượng tồn dư các kim loại nặng.