Dòng máy cao cấp đáp ứng đa dạng nhu cầu đo lường
XDV SDD là một trong những dòng máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) cao cấp và mạnh mẽ nhất của Helmut Fischer với trang bị đầu dò SDD (silicon drift detector) có độ phân giải tốt nhất hiện nay. Dòng máy này được thiết kế để đo chính xác những lớp mạ mỏng nhất mà không phá hủy mẫu – ví dụ như lớp mạ vàng dày 2 nanomet trên linh kiện điện tử.
Ngoài ra, XDV SDD cũng là một sự lựa chọn hoàn hảo để phân tích vật liệu mà không phải phá hủy mẫu. Với khả năng truy tìm các nguyên tố kim loại đặc biệt, hàm lượng tồn dư của chì (Pb) trong nhựa có thể truy dấu vết lên đến 2ppm – một số thông số đo có thể đáp ứng thấp hơn giá trị theo tiêu chuẩn RoHS hay CPSIA.
Bạn có thể thực hiện việc kiểm soát độ dày và hợp kim các lớp mạ một cách tối ưu với XDV SDD, dòng máy này có các khẩu độ (điểm đo) và tấm lọc nhiễu tín hiệu có thể thay đổi tự động. Thiết kế thông minh, chất lượng bền bỉ và đặc biệt dễ dàng sử dụng vận hành trong môi trường sản xuất công nghiệp. Những tính năng đặc biệt như bàn đo tự động chạy theo lập trình bằng motor điện hay hình ảnh trực tiếp của bàn đặt mẫu trong quá trình đo giúp cho công việc của bạn đơn giản hơn bao giờ hết.
