Thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X

Thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X FISCHERSCOPE là sự lựa chọn hoàn hảo để thực hiện việc đo lường độ dày lớp mạ và phân tích hợp kim mà không phá hủy mẫu và không chạm tiếp xúc vào mẫu. Từ năm 1983, những thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X của chúng tôi đã đóng góp một vai trò quan trọng trong quá trình kiểm soát chất lượng ở hầu hết các lĩnh vực sản xuất công nghiệp. Những thiết bị của chúng tôi nổi tiếng bởi sự chính xác cao, bền bỉ và đáng tin cậy. Ngoài ra, những thiết bị tia X FISCHERSCOPE được thiết kế kèm theo phần mềm có giao diện thân thiện với người sử dụng nhằm hỗ trợ tất cả các yêu cầu đo lường của khách hàng. Nhờ vậy công việc kiểm soát chất lượng của khách hàng trở nên đơn giản hơn bao giờ hết!

Tất cả thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X của chúng tôi đều đi kèm với phần mềm Fischer WinFTM được thiết kế để tối ưu hóa quá trình đo lường. Phần mềm này điều khiển thiết bị quang phổ tia X, thiết lập báo cáo, kết nối vào các hệ thống lưu trữ thông tin nội bộ cũng như đảm bảo việc truy xuất phép đo.

Chúng tôi thiết kế các dòng thiết bị chuyên biệt cho những ứng dụng và yêu cầu đo lường đặc thù với độ tin cậy cao. Rất nhiều công ty trên toàn thế giới trong nhiều ngành sản xuất như điện tử, xi mạ, cơ khí, ô-tô xe máy, nữ trang kim hoàn và nhiều ngành nghề khác hoàn toàn tin tưởng các thiết bị FISCHERSCOPE X-RAY trong quá trình kiểm soát chất lượng. Hãy tìm hiểu các thiết bị quang phổ huỳnh quang tia X với chúng tôi!

 

Ưu điểm

  • Chế tạo tại Đức với chất lượng cao cấp cùng các công nghệ mới nhất trên thị trường

  • Một phần mềm có thể sử dụng cho nhiều yêu cầu đo lường khác nhau như đo độ dày lớp và phân tích hợp kim

  • Nhiều tính năng thống kê mở rộng như đồ thị SPC

  • Nhận diện hình ảnh: phần mềm WinFTM có thể tùy biến cài đặt trước để thực hiện tính năng này

  • Khả năng đo lường không cần hiệu chuẩn dựa trên cấu trúc thông tin công nghệ cơ bản giúp cho thiết bị thực hiện phép đo mà không cần phải biết trước hàm lượng kim loại bên trong trước khi đo

  • Phương pháp kiểm soát - cân chỉnh năng lượng theo khoảng cách đo (DCM): không cần phải điều chỉnh khoảng cách theo các góc khác nhau cho các hình dạng mẫu phức tạp, chỉ cần lấy nét bằng camera trên bề mặt vật mẫu - phần mềm WinFTM sẽ làm phần việc còn lại, điều này giúp tiết kiệm thời gian cho việc điều chỉnh khoảng cách đo, thậm chí tránh được va chạm vào mẫu cần đo.

  • Chất lượng phép đo: Các thiết bị của chúng tôi có thể đánh giá và thể hiện chất lượng của phép đo lường, việc chọn nhầm chương trình đo hoặc đo lường nhầm loại mẫu cần đo là có thể xảy ra? Các thiết bị FISCHERSCOPE XRF của chúng tôi sẽ cảnh báo bạn ngay lập tức!

  • Tác vụ: hầu như tất cả tác vụ trong phần mềm WinFTM đều có thể được lập trình và bắt đầu thực hiện chỉ với 1 lần click chuột. Ví dụ như việc thực phân tích tự động nhiều loại hợp kim, thiết bị sẽ di chuyển bàn đặt mẫu theo trực XY (ngang dọc) để đưa mẫu đến đúng vị trí, đưa ra các điều kiện đo lường phù hợp và cuối cùng là hỗ trợ xuất báo cáo kết quả tự động.

Sản phẩm

[ajax_pagination post_type=”product” category=”may-x-ray” columns=”4″ posts_per_page=”8″] [list_products category=”may-x-ray”]

YÊU CẦU TƯ VẤN SẢN PHẨM