Đo lập trình tự động nhận diện hình ảnh cao cấp (pattern recognition)

Trong các ngành sản xuất linh kiện điện tử và bảng mạch PCB ngày nay, các chi tiết và vị trí tiếp điện được phủ bởi các lớp mạ kim loại ngày càng trở nên phổ biến. việc kiểm soát độ dày và hợp kim các lớp mạ này là rất quan trọng. Với số lượng vị trí cần đo trên từng mẫu cũng như số lượng mẫu cần đo là rất lớn, việc sắp xếp chuẩn bị mẫu đo bằng tay rất mất thời gian, giảm năng suất sản xuất cũng như dễ gây ra sai sót.

Hiểu được nhu cầu này, Helmut Fischer đã phát triển tính năng đo lập trình tự động nhận diện hình ảnh cao cấp (pattern recognition) trên phần mềm WinFTM® từ version 6.30 trở lên đi kèm các thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY có hệ thống bàn đo lập trình tự động.

Với phần mềm WinFTM®, chi tiết hình ảnh hoặc cấu trúc đường pattern có thể được xác định nhờ bảng điều khiển nhận diện hình ảnh, mà bạn đó có thể tự do tùy chọn vị trí cần đo trong khoảng hình ảnh đó. Sau đó, trước khi tiến hành phép đo, phần mềm sẽ so sánh các vị trí đo với chi tiết trên hình ảnh – và tự động điều chỉnh vị trí đo chính xác hơn trong các lần đo tiếp theo. Phần mềm cũng có khả năng xác định nhiều chi tiết hình ảnh và đường pattern khác nhau để hỗ trợ tính năng nhận diện hình ảnh hoạt động tốt hơn.

Để sử dụng tính năng này, người sử dụng chỉ cần được hướng dẫn thao tác từ Helmut Fischer và tiến hành áp dụng mà không cần phải có kiến thức phần mềm chuyên sâu. Ngoài ra, nhiều thuật toán tìm kiếm có thể được lựa chọn, cũng như cho phép tạo ra những sai lệch nhỏ so với hình ảnh mục tiêu (mẫu) thông qua tính năng kiểm tra lỗi.